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更新日:令和7(2025)年5月12日

ページ番号:720662

令和6年度新規導入・更新機器設備

令和6年度に以下の機器設備を新規に導入・更新いたしました。

表面粗さ形状測定機

公益財団法人JKA の補助事業により、表面粗さ形状測定機を導入しました。
 製品や部品の表面を触針でトレースして性状を測定する接触式測定機で、表面粗さ測定と形状測定の2つの機能を有しています。表面粗さ測定は先端半径をもつ円錐形状の触針を特定の圧力で押し当てて得られる断面曲線に、適切な帯域通過型フィルタをかけて粗さ曲線やうねり曲線を求めることで表面の凹凸度合いをパラメータで表します。また、形状測定は形の稜線に沿って形状を取得し、そこから直線や円などの要素を抽出、これらを解析計算することで距離や角度などの寸法や公差を評価します。

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※この機器設備は公益財団法人JKAの競輪・オートレース売上金による補助事業により整備しました。

X線回折装置

 公益財団法人JKAの補助事業により、X線回折装置を導入しました。
 X線回折装置はX線の回折現象を利用することにより、材料中の結晶の格子間距離を測定する装置です。結晶の格子間距離を測定することにより、試料がどのような化合物であるか判別することができます。
 本装置は2次元検出器を備えており微小試料の測定、粗大粒で構成された試料の測定を行うことが可能です。また、X-Y-Z-χ-φ軸に稼働するステージを持つことにより、試料中の結晶がどの方位を向いているかを測定することもできます。

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※この機器設備は公益財団法人JKAの競輪・オートレース売上金による補助事業により整備しました。

 高速液体クロマトグラフ

  • 糖・有機酸分析システム

     グルコース、スクロース等の糖類や、乳酸、安息香酸等の有機酸の濃度を測定する装置です。既知濃度の標準液を用いて各成分の濃度とピーク面積からなる検量線を作成し、試料中の各成分濃度を算出します。
     食品等に含まれる糖類は示差屈折率検出器を用いて、有機酸はダイオードアレイ検出器を用いてポストカラム法で検出します。また、電気化学検出器を用いると、試料中の極微量の糖を検出できます。
     発酵食品等の製造過程で変化する糖類や有機酸の分析や、保存料の添加量の確認といった品質管理等に御利用いただけます。

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  • ゲル浸透クロマトグラフ
     樹脂、プラスチック等の高分子材料の分子量分布を測定する装置で、樹脂、プラスチック等の品質の確認や熱、光(紫外線)や使用による劣化評価等にご利用いただけます。
     テトラヒドロフラン(THF)に溶解する試料が測定可能であり、室温から40℃程度で測定を行います。分子量既知の標準物質(ポリスチレン)を用いて分子量と保持時間からなる校正曲線を作成し、試料の分子量を算出します。検出器は、汎用性のある示差屈折率検出器と、紫外や可視光域に吸収を持つ化合物を高感度検出できる紫外・可視分光検出器が利用可能です。

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 原子吸光分光光度計

 本装置は液体試料中の金属元素の定量分析に使用される装置です。
 原子吸光法は試料中の金属イオンをフレーム(炎)により原子化し、これにホロカソードランプ(元素固有の波長の光を出すランプ)の光を照射して、その吸光度を測定することによって定量する分析手法です。固体試料でも前処理により溶液化すれば分析可能なため、幅広い分野で用いられています。
 本装置は重水素ランプ法と自己反転法によるバックグラウンド補正で精度よく分析することが可能です。また、オートサンプラーとホロカソードランプ自動切換え機能により最大60検体・8元素まで自動で測定することができます。

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 一回反射ATRシステム

 赤外分光分析装置の試料室内に取り付ける、全反射法(ATR法)測定に係る機器を更新しました。
 ATR法は他の測定法に比べ、幅広い試料の種類(固体、液体等)に対応しており、また、試料をプリズムの上に接触させるだけで安定したスペクトルを得ることができます。

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 水分活性測定装置

 本装置は食品の水分活性(aw)を測定する装置です。
 食品中の水分は大きく分けて結合水(食品中の成分と水素結合している水分)と自由水(分子運動が抑制されていない水分)に分類され、水分活性は自由水の含有量を示す尺度です。水分活性が高いほど微生物が増殖しやすいため、食品の保存性を評価する上で重要な指標と言えます。
 本装置の測定方式はチルドミラー露点法(ミラーを冷却して結露が発生した時の空間と試料の温度を測定することで、水分活性を直接測定する方式)を採用しており、短時間(5分以内)かつ高精度(±0.01aw)で測定することが可能です。また、水分活性は温度依存性がありますが、本装置は装置内部の温度制御機能(25℃設定)により、安定した試験結果を得ることができます。

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 ベクトルネットワークアナライザ(Keysight Technologies  P9374A)

 高周波回路網の反射や透過の電力特性を、強度と位相を含めた複素パラメータとして測定する装置です。本機は可搬型のUSB接続タイプなので、高周波部品の周波数特性や、材料の電磁波シールド・吸収の評価や同軸ケーブルの損失測定、2アンテナ間の電波伝搬特性評価等、多目的に用いることができます。

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 金属顕微鏡

 金属顕微鏡は、対物レンズを通過した照明光が試料表面で反射した光によって拡大したイメージを提供する装置で、金属や半導体等の光を透過しない物体の表面観察には無くてはならない装置です。
 本装置は明視野、暗視野、偏向微分干渉及び偏向と様々なコントラスト技術が利用可能なので、試料の微細な組織や表面凹凸の観察等が可能です。また金属材料の解析に際しては、鋼介在物試験や結晶粒度解析などの解析ソフトが搭載されているため、高精度かつ再現性の高い解析が可能です。

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お問い合わせ

所属課室:商工労働部産業支援技術研究所企画連携室

電話番号:043-231-4326

ファックス番号:043-233-4861

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