講習会・研修制度-産業支援技術研究所

開催予定または開催中の講習会等

• 【開催案内】令和7年度材料技術講習会「光学顕微鏡の基礎とその応用」
  当研究所では、昨年度に明視野、暗視野、偏光及び微分干渉による観察が可能な光学顕微鏡を導入しました。
  これから光学顕微鏡を使いたい方や、現在使用しているが今ひとつ快適に使えていない方等へ、今後の実験や研究でより効果的に光学顕微鏡を使って頂くため、光学顕微鏡の原理、観察技術及び応用例（金属組織観察、結晶粒度解析など）について解説します。皆様のご参加をお待ちしております。
  【日時】令和8年2月12日（木曜日）午後1時から午後3時まで
  【場所】千葉県産業支援技術研究所天台庁舎会議室
  【参加費・定員】無料・30名
  詳細は【開催案内】令和7年度材料技術講習会「光学顕微鏡の基礎とその応用」のページを御覧ください
• 【開催案内】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「樹脂3DプリンタJ35Pro基本操作研修」
  当研究所では令和8年1月に樹脂3Dプリンタ（stratasys社J35Pro）を導入しました。硬質材やゴムライク材料等の造形が可能です。また、装置内部で材料を複合(最大3種類まで)し、造形物の透明度や質感を調整できるという特長を有しています。
  本研修では、本装置の特長や基本操作、造形の条件設定に関して解説します。またテスト造形も行います。
  製品試作や3D造形にご興味がある方のご参加をお待ちしております。
  【日時】令和8年2月12日（木曜日）から3月13日（金曜日）までの開庁日のうち、1日1社（テスト造形を除き2時間程度）
  【場所】千葉県産業支援技術研究所天台庁舎
  【参加費・定員】無料・5社程度（1社3名程度まで）
  詳細は【開催案内】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「樹脂3DプリンタJ35Pro基本操作研修」のページを御覧ください。
• 【開催案内】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「高速液体クロマトグラフ（HPLC）基本操作研修」
  本研修では、昨年度更新した高速液体クロマトグラフ（HPLC）のご紹介も兼ねて、HPLCの基礎に関するウェビナー及びサンプル分析・解析の実習を行います。
  HPLCにご興味のある方や、サンプルを分析してみたい方のご参加をお待ちしております。
  【日時】ウェビナー：令和8年2月16日（月曜日）午後2時から午後4時まで、実習：令和8年1月13日（火曜日）から2月27日（金曜日）までの開庁日のうち、1日1者（2時間程度、日程はご相談ください）
  【場所(実習)】千葉県産業支援技術研究所 加曽利庁舎
  【参加費・定員】無料・10者程度
  詳細は【開催案内】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「高速液体クロマトグラフ（HPLC）基本操作研修」のページを御覧ください。
• 【開催案内】令和7年度化学技術講習会「粒度分布測定装置の基礎と測定ノウハウ　～レーザー回折散乱式を中心に～」
  本講習会では、食品や材料などの幅広い分野で重要な指標となる粒度分布について、測定装置の種類・原理から、よりよい結果を得るための方法について事例を交えながら解説します。また、最新機種の実機（レーザー回折散乱式・動的画像式による同時測定可）を用意し、サンプルの実測を行います。
  品質管理をお仕事にされている方や、粒度分布測定装置にご興味がある方のご参加をお待ちしております。
  【日時】令和8年2月19日（木曜日）午後1時30分から午後3時40分まで
  【場所】千葉県産業支援技術研究所天台庁舎会議室
  【参加費・定員】無料・24名
  詳細は【開催案内】令和7年度化学技術講習会「粒度分布測定装置の基礎と測定ノウハウ　～レーザー回折散乱式を中心に～」のページを御覧ください。

開催された講習会等

• 【開催終了】令和7年度研究成果発表会「オープンラボ2025　Citri装置体験フェア」
  当研究所の研究成果発表会を開催します。外部講師による、ものづくり企業におけるAI技術の活用事例についての講演の他、研究所内の装置の見学・体験ができる装置体験会も開催します。ご参加お待ちしております。
  【日時】令和7年11月19日（水曜日）午後1時から令和7年11月21日（金曜日）午後4時30分まで
  【場所】千葉県産業支援技術研究所・加曽利庁舎及び天台庁舎
  【参加費】無料
  詳細は【開催終了】令和7年度研究成果発表会「オープンラボ2025　Citri装置体験フェア」のページを御覧ください
• 【開催終了】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「高機能X線回折分析装置を用いた分析」
  当研究所では令和7年3月に新たにX線回折分析装置（株式会社リガクSmartLab）を導入しました。本装置は幅広い試料や測定方法に対応し、結晶の異方性など一般的な分析では難しかった高度な解析が可能です。
  本装置を最大限に活用するためには、ブラッグの回折条件やX線回折パターンのピーク解析、デバイ環の偏り、光点の出現ロジックなど、専門的な知識が必要です。そこで、装置の開発元である株式会社リガクより講師をお招きし、研修を開催します。分析技術の向上を目指す皆様のご参加をお待ちしております。
  【日時】令和8年1月28日（水曜日）午後1時30分から午後4時20分まで
  【場所】千葉県産業支援技術研究所天台庁舎会議室
  【参加費・定員】無料・座学30名、実習5名
  詳細は【開催終了】令和7年度中小企業等技術力高度化支援研修「高機能X線回折分析装置を用いた分析」のページを御覧ください。